Lambda Research Corporation은 주력 제품인 TracePro의 최신 릴리스를
발표하게 된 것을 기쁘게 생각합니다. 이번 TracePro
2023.5 릴리스에는 흥미로운 새 기능은 물론 기존 기능 및 도구에 대한 많은 개선 사항과 개선 사항이 포함되어 있습니다.
이제 사용자는 TracePro Standard 및 Expert
버전에서 DOE(회절 광학 요소)를 모델링할
수 있습니다. DOE, 홀로그래픽 광학 요소(HOE), 컴퓨터
생성 홀로그램(CGH) 및 Zernike 위상 모델링에 세
가지 새로운 표면 특성 유형을 사용할 수 있습니다. 컴퓨터 생성 홀로그램 표면은 방사형 대칭, 비대칭 x-y 또는 비대칭(절대값)일 수 있습니다. 많은 사용자가 이 기능을 요청했으며 이제 TracePro에서 사용할 수 있습니다.
최신 TracePro 릴리스에는 TracePro
Standard 및 Expert에 포함된 미광 분석기(Stray
Light Analyzer)에 대한 많은 개선 사항도 포함되어 있습니다. 광학 시스템에서
미광이나 원치 않는 빛을 분석하는 것은 여러 각도와 위치에서 여러 광원을 추적해야 하는 어렵고 지루한 과정이 될 수 있습니다. 미광 분석기는 이러한 많은 작업을 자동화하고 프로세스를 더욱 직관적이고 사용자 친화적으로 만듭니다.
TracePro 2023.4에는 사용자가 보고한 문제에 대한 수정 사항도 포함되어 있습니다.
또한 Acktar Advanced Coatings 블랙 코팅의 업데이트된 카탈로그도 현재 이용
가능합니다.
현재 유지 관리 및 지원 계약을 체결한 TracePro 사용자는 새로운 TracePro 릴리스와 업데이트된 Acktasr 카탈로그를 다운로드하여
설치하여 새로운 기능과 개선 사항을 활용할 수 있습니다.
Figure 1: HOE grating showing 1st and 2nd orders
Figure 2: CGH example
Figure 3: Stray Light Analyzer example results
