https://www.opsira.de/en/multifunctional-measurement-system-gonio-2pi

재료 데이터에 기반한 현실적인 광학 시뮬레이션의 필요성  

현대 광학 개발에서 더 현실적인 광학 시뮬레이션에 대한 수요가 증가하고 있습니다. 이 목표를 달성하기 위해 서는 사용되는 재료의 광학적 특성을 정확하게 측정해야 합니다. 표면 산란과 체적 산란은 조명 기술부터 정밀 한 과학 기기에 이르기까지 다양한 야에 큰 영향을 미치며, 측정의 광학적 동작 요인으로서 정밀한 측정이 필요 합니다. 반사, 굴절 및 산란에 따른 빛 (표면 또는 체적 )과 방사선의 산란을 모두 설명해야 합니다. 이러한 특성 은 빛과 재료의 복잡한 상호작용을 고려한 상세한 정을 통해서만 파악할 수 있습니다. 

완전한 측정을 위한 4축 고니오 레디오미터

산란 특성의 정확한 측정은 4축 고니오방사계 (이방성) 로만 가능합니다.이 기기를 사용하면 모든 각도와 방향에서 산란 데이터를 캡쳐할 수 있으며, 사실적인 시뮬레이션에 필수적입니다.

스펙트럼 산란 분포

애플리케이션에 따라 스펙트럼 산란 분포도 측정됩니다. 재료가 다양한 파장의 빛을 산란시키는 방식에 대한 정 보가 제공되며, 색 충실 또는 색 음영이 우선순위인 애플리케이션에 중요합니다

광학 시뮬레이션 프로그램에 통합   

캡처한 산란 데이터를 효과적으로 활용하려면  (TracePro, Ansys, Speos, Light Tools, Zemax과 같은) 일반적인 광학적 프로그램으로 직접 내보내기 하는 게 중요합니다. 이를 통해 개발자는 사실적인 재질 속성을 시뮬레이션 모델에 통합할 수 있게 되며, 설계의 정확성을 향상시킵니다. 따라서 첨단 광학 개발과 조명 기술 및 광학분야의 현실적인 솔루션의 토대가 됩니다.

영업 활동에 정보가 도움이 되길 바라며, 앞으로도 신뢰와 유익한 협력을 기대합니다

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