°íÁ¶ÆÄ ºÐ¼® ¼³°è
(Harmonics Analysys)

ÆòÇü ¹× ºÒÆòÇü °èÅë¿¡¼­ ÁÖÆļö ½ºÄµ, Àü¾Ð ¹× Àü·ù ¿Ö°î °è»ê ¼öÇà

Àü·Â°èÅë¿¡ ¿¬°áµÇ´Â ÀüÀÚ ÀåÄ¡ ¹× ±âŸ ºñ¼±Çü ºÎÇÏÀÇ ¼ö´Â ÃÖÁ¾ Àü·Â Ç°Áú¿¡ ¿µÇâÀ» ¹ÌÄ¡´Â °íÁ¶Æĸ¦ »ý¼ºÇÕ´Ï´Ù. °èÅë Àü¾ÐÀ» °³¼±ÇÏ°í ¼Õ½ÇÀ» ÁÙÀ̱â À§ÇØ ¼³Ä¡µÈ Äܵ§¼­´Â ±× À§Ä¡°¡ ÃÖÀûÀÌ ¾Æ´Ñ °æ¿ì °øÁøÀ» ÀÏÀ¸Å³ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ °íÁ¶ÆÄ ¿Ö°îÀÌ ¿ÏÈ­µÇÁö ¾Ê´Â °æ¿ì, ±â±âÀÇ ¿ÀÀÛµ¿, Àåºñ °ú¿­ ¹× Àü·Â ¼Õ½ÇÀÇ Áõ°¡½Ãų ¼ö Àֱ⠶§¹®¿¡ Àü·Â Ç°Áú¿¡ ¾Ç¿µÇâÀ» ¹ÌĨ´Ï´Ù

ÁÖÆļö ½ºÄµ Àü¾Ð°ú Àü·ùÀÇ ¿Ö°î °è»ê Äܵ§¼­ÀÇ Á¤°Ý°ú ÇÊÅÍÀÇ Å©±â ºÐ¼® K-Factor ¹× Factor-K °è»ê µî ´Ù¾çÇÑ ºÐ¼®À» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù. ÀÌ ¸ðµâÀ» »ç¿ëÇÏ¸é ºñ¼±Çü ºÎÇÏ ¹× ÄÁ¹öÅÍ ¹× ¾ÆÅ©·Î¿Í °°Àº ±âŸ °íÁ¶ÆÄ Àü·ù ¼Ò½º¸¦ ¸ðµ¨¸µÇÏ°í Ä¿ÆнÃÅÍ ¹ðÅ©¿¡ ÀÇÇÑ °øÁø ÁÖÆļö¸¦ ½±°Ô °¨ÁöÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. ´Ù¾çÇÑ ¸ðµ¨¸µ ¹× ºÐ¼® ±â´ÉÀ» °®Ãá Harmonic Analysis ¸ðµâÀ» »ç¿ëÇϸé Àü±â ³×Æ®¿öÅ©¿¡ ´ëÇÑ ºñ¼±Çü ºÎÇÏÀÇ ¿µÇâÀ» Á¤È®ÇÏ°Ô Æò°¡ÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.

ÀÌ ¸ðµâÀº ¸ðµç ±¸¼ºÀÇ À¯Æ¿¸®Æ¼ À¯Çü ±×¸®µå, »ê¾÷¿ë Àü·Â°èÅë ¹× ¹èÀü °ø±Þ±â¿¡ ÇÁ·Î±×·¥À» ½±°Ô Àû¿ëÇÒ ¼ö ÀÖ´Â À¯¿¬¼º°ú ÇÔ²² ´Ü»ó ¹× Àüü ¸ðµ¨¸µ ±â´ÉÀ» ¸ðµÎ °®Ãß°í ÀÖ½À´Ï´Ù. 3»ó nodal admittance ³×Æ®¿öÅ© ¸ÅÆ®¸¯½º Ç¥Çö°ú ÇÔ²² ÃÖ÷´ÜÀÇ sparse matrix / vector ¹æ¹ýÀ» »ç¿ëÇÕ´Ï´Ù. °íÁ¶ÆÄ ºÐ¼® ¸ðµâÀº CYME °­·ÂÇÑ ºÎÇÏ È帧 ¾Ë°í¸®ÁòÀ» »ç¿ëÇÏ¿© °íÁ¶ÆÄ ¿Ö°î °è»ê ¹× ÆÄÇü Ç¥½Ã¸¦ À§ÇÑ ±âº» ÁÖÆļö Àü·ù ¹× Àü¾Ð °èÅë ÇÁ·ÎÇÊÀ» °¡Á®¿É´Ï´Ù.

ÀÌ ¸ðµâ¿¡ Æ÷ÇÔµÈ ÁÖÆļö ½ºÄµ ±â´ÉÀº µ¶¸³ ¸ðµâ·Îµµ »ç¿ëÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. ÀÌ ºÐ¼®Àº ¿ÏÀüÇÑ ÀÓÇÇ´ø½º ½ºÄµÀ» Á¦°øÇÏ¸ç °íÁ¶ÆÄ ÀåÄ¡¸¦ ¼³Ä¡Çϱâ Àü¿¡ ¹®Á¦ ¿µ¿ªÀ» È®ÀÎÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
Analytical Capabilities
Phase or sequence ºÐ¼®
¿îÀü ÁöÁ¡ ¹× Àü¼Û ÁöÁ¡ ÁÖÆļö ½ºÄµ ºÐ¼®
°íÁ¶ÆÄ Àü¾Ð ¿Ö°î ºÐ¼®
°íÁ¶ÆÄ Àü·ù ¿Ö°î ºÐ¼®
ÀüÈ­ °£¼· Áö¼ö (TIF, IT µî)ÀÇ °è»ê
°èÅë ¹Î°¨µµ ¼öÁØ Æò°¡
°íÁ¶ÆÄ cancellation
ÇÊÅÍ Å©±â Á¶Á¤À» ÅëÇÑ °èÅë detuning
Capacitor stressºÐ¼®
Skin effect modeling
»ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ ¿Ö°î Á¦ÇÑ ¶Ç´Â IEEE 519¢â 1992 Ç¥ÁØ¿¡ µû¸§
Selection of line/cable models:
½Ã¸®Áî R-L, °øĪ Pl, ÀüÄ¡ ¹× ºñÀüÄ¡ ºÐ»ê ¸Å°³ º¯¼ö, frequency-dependent

Selection of load models:
(º´·Ä R-L, ½Ã¸®Áî R-L, CIGRE C-Type µî)
Capacitor Stress and Filter Sizing
°íÁ¶ÆÄ ºÐ¼® ¸ðµâÀº ÇÊÅÍ¿¡ ³»ÀåµÈ Ä¿ÆнÃÅ͸¦ Æ÷ÇÔÇÏ¿© Ä¿ÆнÃÅÍÀÇ ½ºÆ®·¹½º ºÐ¼® ±â´ÉÀ» Á¦°øÇϸç, ¿£Áö´Ï¾î°¡ »ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ ¶Ç´Â IEEE Ç¥ÁØÀÇ Á¦ÇÑ¿¡ µû¶ó ÀûÀýÇÑ Á¤°ÝÀÎÁö ¿©ºÎ¸¦ ÆÇ´ÜÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï µµ¿ÍÁÝ´Ï´Ù.
¸¶Âù°¡Áö·Î, ±âº» ÀúÇ× ¼Õ½Ç ¸®¾×ÅϽº¸¦ È帣´Â ±âº»ÆÄ ¹× °íÁ¶ÆÄ Àü·ù, ÇÊÅÍ Äܵ§¼­¸¦ Åë°úÇÏ´Â ±âº»ÆÄ ¹× °íÁ¶ÆÄ Àü¾ÐÀ» °è»êÇÏ¿© ¿£Áö´Ï¾î°¡ ÇÊÅÍ Å©±â°¡ ÀûÀýÇÑÁö ¿©ºÎ¸¦ ÆÇ´ÜÇÏ´Â µ¥ µµ¿òÀ» ÁÝ´Ï´Ù.
Transformer K-FactorCalculation
°íÁ¶ÆÄ ºÐ¼® ¸ðµâÀº °èÅëÀÇ °íÁ¶ÆÄ ·¹º§¿¡ ´ëÇÑ º¯¾Ð±â Á¤°Ý Æò°¡¸¦ À§ÇØ Transformer K-Factor (ANSI / IEC) ¹× Factor-K (BS) °è»êÀ» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.
Equipment Library
»ç¿ëÀÚ´Â ¿©·¯ À¯ÇüÀÇ °íÁ¶ÆÄ ¼Ò½º¸¦ ¸ðµ¨¸µÇÏ¿© ÇÊÅÍÀÇ È¿°ú¸¦ Æò°¡ÇÏ°í ³×Æ®¿öÅ©¿¡¼­ Çã¿ë °¡´ÉÇÑ ¼öÁØÀÇ harmonic distortion indices¸¦ ¾ò±â À§ÇØ ÀÚÀ¯·Ó°Ô º¯°æÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù.
´ç»çÀÇ Ç³ºÎÇÑ ¶óÀ̺귯¸®¿¡´Â ´ÙÀ½°ú °°Àº ÀåÄ¡°¡ Æ÷ÇԵǾî ÀÖ½À´Ï´Ù.
Ideal and non-ideal º¯È¯±â
ÀÏ¹Ý ´ÜÀÏ ¶Ç´Â ´ÙÁß ÁÖÆļö Àü·ù ¹× Àü¾Ð ¼Ò½º ¸ðµ¨. ¿©±â¿¡´Â IEEE 519.18¢â¿¡ µû¸¥ ÀϹÝÀûÀÎ °íÁ¶ÆÄ ½ºÆåÆ®·³À» °¡Áø µå¶óÀÌºê ¶óÀ̺귯¸®°¡ Æ÷ÇԵ˴ϴÙ
Arc furnace model
Passive shunt filter models comprising single tuned, highpass, double tuned and C-type
´Ü»ó ¹× »ï»ó Àü·Â¼±°ú ÄÉÀÌºí ¸ðµ¨, ½Ã¸®Áî R-L, °øĪ Pl ¹× ºÐ»ê ÆĶó¹ÌÅÍÀÇ ¶óÀ̺귯¸®
µ¿±âÈ­ ¹× À¯µµ ¸ðÅÍ ¸ðµ¨
´Ü»ó ¹× »ï»ó º¯¾Ð±â ¸ðµ¨Àº phase shift angles¿¡ ÀÇÇÑ °íÁ¶ÆÄ Á¦°Å°¡ °¡´É
nonlinear loads ¹× Àü·Â ÀüÀÚ ±â±âÀÇ °íÁ¶ÆÄ ¼Ò½º ¸ðµ¨¸µ
Á¤Àû ºÎÇÏ ¸ðµ¨¸µ : º´·Ä R-L ¹×CIGRE C-Type
»ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ Àåºñ¸¦ »ý¼ºÇϱâ À§ÇÑ Á÷·Ä ¹× º´·Ä RLC ºÐ±â ȸ·Î