º¸È£ÇùÁ¶ ºÐ¼® ¼³°è
(Protective Device Analysis)

Àü·Â°èÅëÀÇ º¸È£¸¦ È®ÀÎÇÏ°í °­È­ÇÕ´Ï´Ù.

º¸È£ ÀåÄ¡ÀÇ ¿Ã¹Ù¸¥ ¼±Åðú ÀûÀýÇÑ Å©±â´Â ³×Æ®¿öÅ©ÀÇ ´Ü¶ôÀ¸·Î ÀÎÇÑ ¿µÇâÀ» ÁÙÀÌ°í, Àåºñ ¿À·ù¸¦ ÃÖ¼ÒÈ­ÇÏ·Á´Â ¿£Áö´Ï¾î¿¡°Ô Áß¿äÇÑ ¹®Á¦ÀÔ´Ï´Ù. CYMEÀÇ º¸È£ ÀåÄ¡ ºÐ¼®¸ðµâÀº ¿£Áö´Ï¾î¿¡°Ô Àü·Â°èÅëÀÇ Á¶Á¤ ü°è¸¦ È¿À²ÀûÀÌ°í Á¤È®ÇÑ ¼³°è ¹× °ËÁõÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ´Ù¾çÇÑ µµ±¸¸¦ Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.
º¸È£ ÀåÄ¡ ºÐ¼® ¸ðµâÀº Àü·Â ¿£Áö´Ï¾î°¡ ½Ã°£-Àü·ù °î¼±À» ºÐ¼®ÇÏ¿© º¸È£ ¹®Á¦¸¦ È¿°úÀûÀ¸·Î ÇØ°áÇϴµ¥ µµ¿òÀÌ µÇ´Â Çʼö µµ±¸ÀÔ´Ï´Ù.
15,000°³°¡ ³Ñ´Â º¸È£ ÀåÄ¡ÀÇ ±¤¹üÀ§ÇÑ ¶óÀ̺귯¸®, Á÷°üÀûÀÎ ±×·¡ÇÈ Ç÷Ô, ´Ù¾çÇÑ µµ±¸ ¹× ºÐ¼®À» ÅëÇØ CYME Àü·Â°èÅë ºÐ¼® ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î¸¦ »ç¿ëÇÏ¿© º¸È£ ü°è¸¦ °èȹÇÏ°í °ËÁõÇÏ´Â °ÍÀÌ ±× ¾î´À ¶§º¸´Ù ½¬¿öÁý´Ï´Ù.

ÇöÀç Ç÷Կ¡ ´ëÇÑ ½Ã°£Àº CYMEÀÇ »ç¿ëÀÚ Ä£È­ÀûÀÎ ÀÎÅÍÆäÀ̽º¿¡¼­ »ý¼ºµÇ¸ç ´ÙÀ½À» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.

Ç»Áî, ¸±·¹ÀÌ, ȸ·Î Â÷´Ü±â ¹× reclosers µîÀÇ º¸È£ ÀåÄ¡ÀÇ ½Ã°£-Àü·ù °î¼±À» Ç¥½ÃÇÏ´Â Log-log Ç÷Ô
ºÏ¹Ì, À¯·´ ¹× ¾Æ½Ã¾Æ Á¦Á¶¾÷üÀÇ 100,000°³ ÀÌ»óÀÇ °î¼±À» Æ÷ÇÔÇÏ´Â ¶óÀ̺귯¸® (IEEE / ANSI ¹× CEI Ç¥ÁØ Æ÷ÇÔ)
°î¼± ¶óÀ̺귯¸®ÀÇ ¿Â¶óÀÎ ¾÷µ¥ÀÌÆ®
»ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ °î¼±
ƯÁ¤ ¼³Á¤ÀÇ Àåºñ¸¦ ´Ü¼±µµ¿¡ µå·¡±× ¾Ø µå·Ó
¸ðµç º¸È£ ÁöÁ¡À» Ç¥½ÃÇÏ°í Ç¥½Ã°î¼± ¹× ºÐ±â ÀåÄ¡ÀÇ Á¶Á¤ µîÀÇ ¸í·É¿¡ ºü¸£°Ô ¾×¼¼½º¸¦ Á¦°øÇÏ´Â ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾îÀÇ ÅëÇÕ Á¦¾î
¸ðÅÍ ½Ãµ¿, º¯¾Ð±â µ¹ÀÔ ¹× ÄÉÀÌºí ¼Õ»ó¿¡ ´ëÇÑ ÀûÀýÇÑ Á¶Á¤ °Ë»ç
°î¼± »çÀÌÀÇ ½Ã°£ ¹× ÇöÀç ¸¶ÁøÀ» Á¤È®ÇÏ°Ô °è»êÇÏ´Â µµ±¸
È­¸é¿¡¼­ ´ëÈ­½ÄÀ¸·Î º¯°æ »çÇ×À» ½Ã°¢È­Çϱâ À§ÇÑ ¼³Á¤ º¯°æ
°î¼± »ö»ó, ÅÂ±× ¹× ±âŸ ±×¸®µå ¿É¼Ç¿¡ ´ëÇÑ »ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ Ç¥½Ã ¿É¼Ç
º¸È£ ¼öÁØ ¶Ç´Â º¸È£ ¿µ¿ªÀÌ ÀÖ´Â ´Ü¼± ´ÙÀ̾î±×·¥ÀÇ »ö»ó ÄÚµù
º¸°í¼­¿¡ ½Ã°£-ÇöÀç Ç÷ÔÀ» ½±°Ô Æ÷ÇÔÇÏ´Â ³»º¸³»±â ±â´É

CYMEÀº ¿¬±¸¸¦ ´Ü¼øÈ­Çϱâ À§ÇØ À§¿¡ ³ª¿­µÈ À¯¿ëÇÑ µµ±¸¸¦ Á¦°øÇÒ »Ó¸¸ ¾Æ´Ï¶ó ¿£Áö´Ï¾î°¡ ³×Æ®¿öÅ©¿¡ ÀÖ´Â ÀåÄ¡ÀÇ Á¶Á¤ ¹× º¸È£ ¹üÀ§¸¦ º¸´Ù ¸é¹ÐÇÏ°Ô Á¶»çÇϴµ¥ µµ¿òÀÌ µÇ´Â °í±Þ ºÐ¼®À» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.
Protective Device Analysis
º¸È£ ÀåÄ¡ ºÐ¼®À» »ç¿ëÇÏ¿© ³×Æ®¿öÅ©ÀÇ ¸ðµç º¸È£ ÀåÄ¡ÀÇ Á¶Á¤, º¸È£ ¹üÀ§ ¹× ºÎÇϸ¦ È®ÀÎÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. ·¹µð¾ó Á¶Á¤ ¹× º´·Ä ºÐ±â Á¶Á¤ÀÌ Áö¿øµË´Ï´Ù.

ÁÖ¿ä ±â´ÉÀº ´ÙÀ½°ú °°½À´Ï´Ù.
ÇϳªÀÇ ¸í·ÉÀ¸·Î Àüü °èÅë ºÐ¼®
»ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ ±âÁØ¿¡ µû¶ó ¿¬¼ÓµÈ ÀåÄ¡ °£ÀÇ Á¶Á¤ È®ÀÎ
»ç¿ëÀÚ°¡ Á¤ÀÇÇÑ ÃÖ´ë Çã¿ë ÀÛµ¿ ½Ã°£¿¡ ÀåÄ¡°¡ º¸È£ ±¸¿ª ³»ÀÇ ¸ðµç Àå¾Ö¿¡ ´ëÇØ ÀÛµ¿ÇÏ´ÂÁö ¿©ºÎ¸¦ È®ÀÎÇÕ´Ï´Ù.
°¢ ÀåÄ¡¿¡ È帣´Â Àü·ù¸¦ »ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ ÃÖ´ë Çã¿ë ¿¬¼Ó ºÎÇÏ Àü·ù¿Í ºñ±³ÇÕ´Ï´Ù.
¸ðµç ÄÉÀ̺íÀÌ ÀåÄ¡¿¡ ÀÇÇØ º¸È£µÇ°í ÀÖ´ÂÁö È®ÀÎ
Ç»Áî Á¦°Å ¶Ç´Â Ç»Áî Àý¾à ¿É¼Ç
1Â÷ ¹× 2Â÷ º¸È£ ÀåÄ¡¸¦ ¸ðµÎ ¿¬±¸
º¸È£ ÀåÄ¡¿¡ Ç¥½ÃµÇ´Â Àú¿Â ºÎÇÏ ÇȾ÷ Àü·ù °î¼±À» ½Ã°£-Àü·ù °î¼±°ú ºñ±³ÇÏ¿© ÀÌ»ó »óŸ¦ º¸°íÇÕ´Ï´Ù.
°î¼± ±³Â÷Á¡, µµ´Þ ¹× ºÎÇÏÀÇ ¹®Á¦¸¦ °­Á¶Çϱâ À§ÇÑ ´Ü¼± ´ÙÀ̾î±×·¥ÀÇ Àü¹® º¸°í¼­
Sequence of Operation
ÀÛµ¿ ¼ø¼­ ºÐ¼®Àº ³×Æ®¿öÅ©¿¡ ´ëÇÑ ÀϽÃÀû ¶Ç´Â ¿µ±¸Àû °áÇÔÀÇ ¿µÇâÀ» Æò°¡ÇÏ¿© Æ®¸®°Å µÈ º¸È£ ÀåÄ¡ ÀÛµ¿ ¼ø¼­¸¦ Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.

ÁÖ¿ä ±â´ÉÀº ´ÙÀ½°ú °°½À´Ï´Ù.
»ç¿ëÀÚ Á¤ÀÇ ¿À·ù À§Ä¡
¸ðµç °áÇÔ À¯Çü ½Ã¹Ä·¹À̼Ç
°¢ ÀÛ¾÷¿¡ ´ëÇÑ ³×Æ®¿öÅ©ÀÇ »óŸ¦ °í·ÁÇÏ¿© °¢ º¸È£ ÀåÄ¡ÀÇ °íÀå Àü·ù ¹× °³¹æ ½Ã°£ °è»ê
Áö¿¬ ¹× Àç¼³Á¤ ½Ã°£À» Æ÷ÇÔÇÑ ÀåÄ¡ ¼³Á¤ °í·Á
´Ü¼± ´ÙÀ̾î±×·¥¿¡¼­ Æ®¸®°Å µÈ º¸È£ ÀåÄ¡ ÃßÀû
Æ®¸®°Å µÈ ÀåÄ¡ÀÇ ¼ø¼­, °³¹æ ½Ã°£ ¹× °¢ ÀÛ¾÷¿¡¼­ °¨ÁöµÈ ¿À·ù Àü·ù¸¦ ³ª¿­Çϴ ǥ Çü½Ä º¸°í¼­
Minimum Fault Analysis
ÃÖ¼Ò ¿À·ù ºÐ¼®Àº ¿£Áö´Ï¾î°¡ ÀåÄ¡°¡ °¢°¢ÀÇ º¸È£ ¿µ¿ª¿¡¼­ º¼ ¼ö ÀÖ´Â ÃÖ¼Ò ¿À·ù¸¦ ÀûÀýÇÏ°Ô °¨ÁöÇÏ°í Á¦°ÅÇÒ ¼ö ÀÖ´ÂÁö È®ÀÎÇÏ´Â µ¥ µµ¿òÀ» ÁÖ±â À§ÇØ Á¦°øµË´Ï´Ù.
º¸È£°¡ ºÎÁ·ÇÑ ¸ðµç ¿µ¿ªÀ» ³ª¿­ÇÏ´Â ÀÚ¼¼ÇÑ º¸°í¼­°¡ Á¦°øµË´Ï´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ ¿µ¿ªÀº ½Ã°¢È­¸¦ ¿ëÀÌÇÏ°Ô Çϱâ À§ÇØ ´Ü¼± ´ÙÀ̾î±×·¥¿¡¼­ »ö»óÀ¸·Î ±¸ºÐµË´Ï´Ù.